桂林电子科技大学院长、教授杨道国在2012中国国际半导体照明论坛上做题为《LED灯具寿命的快速检测：阶梯压力加速测试》的报告时提出，半导体行业通常有一个可靠性测试方法：持续加速测试。但是这个测试对高可靠性产品并不很适用，因此必须设计出阶梯压力加速测试，以减短测试时间。
杨道国教授提出的阶梯压力加速测试有几个优点：适合长寿命的产品、测试时间短、测试样本小、显示出LED产品潜在的可靠性试验应用，其次阶梯压力加速测试对LED产品进行研究，在设计实验的基础上取得了一些初步结果。根据这个实验结果可以得出快速寿命评估方法适用于LED产品。
因为内部测试，寿命等方面不同，可靠性测试有很多挑战。而阶梯压力加速测试是有效的方法，目前已经进行了初步测试，希望未来对模具也能进行测试，期待得到更多结果。
在提到有效性测试时，杨道国教授表示目前有几种方法能减少测试时间、降低测试成本。比如将各个次体统相结合，建立一个完整系统的方法，其模拟结果与真实结果对比，发现在节温上长效机制得到改变。